X光鍍層測厚儀通過發(fā)射X射線并檢測鍍層材料對X射線的吸收或熒光輻射，來精確測定各種金屬鍍層的厚度。以下是其詳細(xì)說明：
電鍍層：如鍍鋅、鍍銅、鍍鎳、鍍鉻、鍍錫等。
蒸鍍層：如真空蒸鍍的鋁、金、銀等。
離子鍍層：如物理氣相沉積（PVD）或化學(xué)氣相沉積（CVD）的鍍層。
熱噴涂層：如熱噴涂鋅、鋁等。
其他金屬鍍層：如鍍銀、鍍鉑、鍍鈦等。
此外，它還可以測量多層鍍層的厚度，例如在鐵基板上依次鍍銅、鍍鎳、鍍鉻的多層結(jié)構(gòu)。
2. X光鍍層測厚儀基于以下兩種原理之一：
X射線吸收法：
發(fā)射X射線穿透鍍層和基材，由于不同材料對X射線的吸收率不同，通過檢測透過的X射線強(qiáng)度，計算出鍍層厚度。
適用于單層或多層鍍層的測量。
X射線熒光法（XRF）：
發(fā)射X射線激發(fā)鍍層材料，使其產(chǎn)生熒光X射線，通過分析熒光X射線的波長和強(qiáng)度，確定鍍層成分和厚度。
適用于已知鍍層材料的成分分析。
3. X光鍍層測厚儀主要特點(diǎn):
無損檢測：無需破壞樣品，可快速、準(zhǔn)確地測量鍍層厚度。
高精度：測量精度通常可達(dá)±0.1μm至±1μm，具體取決于鍍層材料和儀器型號。
多層層測：可同時測量多達(dá)5層甚至更多層的厚度（需根據(jù)儀器配置）。
廣泛適用性：可測量各種金屬鍍層和非金屬鍍層（如塑料、橡膠等）。
自動化操作：配備軟件自動分析數(shù)據(jù)，支持批量測量和報告生成。
