XRF-2020測(cè)厚儀確實(shí)可用于測(cè)量電鍍鍍層厚度，原理是物質(zhì)經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測(cè)量?jī)x的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。應(yīng)用范圍：可應(yīng)用于電子、汽車(chē)、五金、塑膠等各類(lèi)產(chǎn)品的電鍍層厚度檢測(cè)，如pcb板、端子連接器、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍等。 可測(cè)鍍層：能測(cè)量金、鎳、銀、錫、鋅、銅、鋅鎳合金等多種金屬鍍層的厚度，以及單鍍層、雙鍍層、多鍍層及合金鍍層的厚度。
XRF-2020測(cè)厚儀的測(cè)量原理基于熒光X射線(xiàn)技術(shù)，具體如下：
1.激發(fā)源發(fā)射：儀器中的X射線(xiàn)管產(chǎn)生高能量的X射線(xiàn)，這些X射線(xiàn)通過(guò)光圈聚焦后照射在樣品表面非常小的區(qū)域（光斑尺寸）。
2.原子相互作用：當(dāng)X射線(xiàn)與光斑內(nèi)元素的原子相互作用時(shí)，會(huì)將原子內(nèi)殼層的電子逐出軌道。外層電子躍遷填充內(nèi)層空穴時(shí)，多余的能量以熒光X射線(xiàn)的形式發(fā)射出來(lái)。
3.特征X射線(xiàn)探測(cè)：探測(cè)器接收到這些熒光X射線(xiàn)，并根據(jù)其能量和強(qiáng)度進(jìn)行分析。由于不同元素的特征X射線(xiàn)能量具有唯*性，因此可以通過(guò)探測(cè)到的特征X射線(xiàn)來(lái)確定樣品表面的元素種類(lèi)。
4.厚度計(jì)算：在不同能量段探測(cè)出的X射線(xiàn)強(qiáng)度與樣品中的元素含量相關(guān)。對(duì)于鍍層樣品，根據(jù)鍍層材料和基底材料之間特征X射線(xiàn)強(qiáng)度的差異，結(jié)合已知的物理模型和算法，計(jì)算出鍍層的厚度。
