X-RAY膜厚儀的工作原理主要是利用X射線的穿透性，當(dāng)X射線穿透被測(cè)物體時(shí)，會(huì)被物體吸收一部分，剩余的部分則被探測(cè)器接收，通過(guò)測(cè)量和計(jì)算，就可以得到被測(cè)物體的厚度信息。測(cè)量流程包括準(zhǔn)備、校準(zhǔn)、測(cè)量等步驟。
使用X射線的熒光分析原理，通過(guò)測(cè)量樣品激發(fā)出的二次X射線光譜來(lái)分析材料的組成和厚度。當(dāng)X射線穿透被測(cè)物體時(shí)，會(huì)根據(jù)物體的材質(zhì)和密度產(chǎn)生不同程度的衰減，探測(cè)器通過(guò)檢測(cè)這些衰減后的X射線強(qiáng)度，結(jié)合已知的材料吸收特性，計(jì)算出物體的厚度。
X-RAY膜厚儀的測(cè)量流程：
首先進(jìn)行儀器的預(yù)熱和校準(zhǔn)。將膜厚儀放置在穩(wěn)定的工作環(huán)境中，并使用標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。然后進(jìn)行樣品的適當(dāng)處理，如清潔樣品表面，或?qū)Χ鄬幽そY(jié)構(gòu)進(jìn)行適當(dāng)?shù)念A(yù)處理，如分層剝離或切割，接著將樣品放置在測(cè)量臺(tái)上，確保樣品與測(cè)量頭的良好接觸，且位置正確，最后啟動(dòng)測(cè)量過(guò)程，儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)行X射線熒光測(cè)量，并顯示涂層或薄膜的厚度值。
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，X-RAY膜厚儀作為一種重要的無(wú)損檢測(cè)工具，其準(zhǔn)確度高、速度快、操作簡(jiǎn)便，且不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成損害，因而在電子、汽車、航空航天、能源以及醫(yī)療行業(yè)等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。隨著科技的不斷進(jìn)步，膜厚儀的技術(shù)也在不斷提升，為各行各業(yè)提供了更加精確和高效的檢測(cè)方案。
